引用: dang28 发表于 2018-11-13 16:34
近端相噪一般是由参考源、电源噪声主导的,建议您核查这两个方面。测试参考源的相位噪声,估算其对锁相环输出相位噪声的影响(20*logN),然后与测试结果比较。或者换用低噪声的电源模块试一试,例如ADP150
引用: CQuin 发表于 2018-11-13 16:42
晶振是OCXO性能很好,电源直接由安捷伦公司的直流电压源接入。
引用: dang28 发表于 2018-11-13 16:58
把晶振的相位噪声曲线和PLL输出的相位噪声曲线发出来看看呢?另外,您用的那个鉴相器芯片?除了前面说的两种原因外,其他数字低频干扰信号或地上的噪声也会恶化近端噪声。以这个电源为例,http://cp.literature.agilent.com/litweb/pdf/5968-7355CHCN.pdf ,电源直接出来的噪声比经过LDO后的噪声差。 ...
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