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u口仿真器退出Debug后重新上电仿真时程序丢失
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仿真
IDE:IAR
u口
仿真
器仿真时,程序正常。但是退出Debug时,断电拔掉u***接口和JTAG口。从新上电,仿真时的程序为何丢失?
Debug时程序就是在flash中仿真。
回帖
(12)
h1654155275.5669
2018-10-9 11:29:17
程序的丢失是在写的时候没有注意电压等因素的影响还是?
程序的丢失是在写的时候没有注意电压等因素的影响还是?
1
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周凯:
进来学习学习。
李辉
2018-10-9 11:29:32
这个flash的本身存在缺陷的,这个可以更换一个芯片的再对比读写测试下的。
这个flash的本身存在缺陷的,这个可以更换一个芯片的再对比读写测试下的。
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李秀兰
2018-10-9 11:29:40
程序没有烧到单片机的FLASH
程序没有烧到单片机的FLASH
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张辉
2018-10-9 11:29:57
编译仿真的时候没有设置直接的写入到相关的flash
编译仿真的时候没有设置直接的写入到相关的flash
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刘超
2018-10-9 11:30:09
单片机内部的程序可能会被破坏
单片机内部的程序可能会被破坏
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王萍
2018-10-9 11:30:18
单片机还有一的性能参数就是 抗干扰能力
单片机还有一的性能参数就是 抗干扰能力
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张波
2018-10-9 11:30:29
电磁干扰,工作电压不稳定,都有可能引起程序丢失。
电磁干扰,工作电压不稳定,都有可能引起程序丢失。
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杜喜喜
2018-10-9 11:30:43
遇到FLASH保存的数据丢失问题,单片机的程序就丢了。
遇到FLASH保存的数据丢失问题,单片机的程序就丢了。
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贾虎世
2018-10-9 11:30:56
有可能是上电复位电路不合适
有可能是上电复位电路不合适
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贾飞小
2018-10-9 11:31:07
仿真过程中的程序丢失问题,这个在STM32系列是常见的问题。原因是:3.3V电压瞬间升高,FLASH数据破坏。解决的方法是:3.3V回路中,加一个并联稳压器,稳压值在3.5V,我在加了这个电路后,就没有出现过程序丢失的问题了。
仿真过程中的程序丢失问题,这个在STM32系列是常见的问题。原因是:3.3V电压瞬间升高,FLASH数据破坏。解决的方法是:3.3V回路中,加一个并联稳压器,稳压值在3.5V,我在加了这个电路后,就没有出现过程序丢失的问题了。
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贾永世
2018-10-9 11:31:19
估计你下载到ram里边了
估计你下载到ram里边了
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alonggege
2019-7-23 08:15:09
不错,很好的经验分享,辛苦麻烦了,欠缺这方面的资料,非常感谢。
不错,很好的经验分享,辛苦麻烦了,欠缺这方面的资料,非常感谢。
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